DFT笔记94

用图10.13的样本BIST电路来说明这个设计：当RUNBIST指令传入IR，图中mbist信号会被激活，而且BIST decoder会被使能初始状态下TAP controller会处于Test–Logic–Reset state，它会提供一个复位信号，这个复位信号会通过图中rst信号复位BIST controller如果要初始化compressor，那么既可以复位它，也可以让TAPC进入shift mode，并且激活bist-sel信号，一个初始值会通过TDI和bist_si被送入Compressor然后TAPC会进入Run-Idle/Test state，并且通过bist_en信号使能BIST controller，来开始BIST操作BIST操作完成之后，TAPC会再次进入shift mode，shift out压缩的结果用于评估图中hold信号在必要的时候可以被用来hold住BIST controller（等待TAP进入需要的状态或者等待延迟测试）上面的设计可以延伸为多个组件可以同时、一个一个或者混合着来执行BIST。这种多个测试指令执行是1149.1允许的。这个设计对scan的支持也是相似的，可以看图10.13。